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產(chǎn)品名稱:
IC帶狀TEM小室
產(chǎn)品型號:
HEM608
產(chǎn)品展商:
華瑞高（horigol）
產(chǎn)品文檔:
無相關(guān)文檔
簡單介紹
horigol的HM608是一個DC到8GHz的IC帶狀TEM小室，它所產(chǎn)生的電磁場，可以用于測試小型設(shè)備，如IC、無線通信模塊等。通過HM608的輸入端口施加的外部測試信號產(chǎn)生一致且可預測的TEM測試場。可以使用測試接收器通過端口測量來自TEM小室內(nèi)部傳輸?shù)脑O(shè)備的輻射場。
IC帶狀TEM小室
的詳細介紹
1.說明
horigol的HM608是一個DC到8GHz的IC帶狀TEM小室，它所產(chǎn)生的電磁場，可以用于測試小型設(shè)備，如IC、無線通信模塊等。通過HM608的輸入端口施加的外部測試信號產(chǎn)生一致且可預測的TEM測試場。可以使用測試接收器通過端口測量來自TEM小室內(nèi)部傳輸?shù)脑O(shè)備的輻射場。
獨特而緊湊和經(jīng)濟的設(shè)計經(jīng)過優(yōu)化，可用于標準TEM室頻率范圍以外的中等精度測量。HM603-8的工作原理與TEM小室是基本相同的。測試體積內(nèi)的E-H場與輸入電壓成正比，與TEM小室的高度成反比。如果將輻射物體蓋在TEM小室的內(nèi)部，則朝向輸入端口的輻射波由傳輸線引導，并在輸入端用接收器（如頻譜分析儀）測量。使用這種方法，可以定量測量設(shè)備的射頻發(fā)射。由于該設(shè)備非常寬帶，因此在EMI、EMS、接收機靈敏度測試等領(lǐng)域有許多應(yīng)用。
2.特點
?高達8GHz帶寬（超過1GHz的正常TEM單元帶寬）
?可測試高達1 kV的高壓磁場注入
3.應(yīng)用
?集成電路的電磁抗擾度測試
?集成電路電磁輻射測試
?集成電路的ESD/浪涌場敏感性測試
?設(shè)計滿足以下標準的要求：
? SAE 1752-3
? IEC 61967-2
? IEC 61967-8
? IEC 62132-2
? IEC 62132-8
4.規(guī)格參數(shù)
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頻率范圍：
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直流至8 GHz
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TEM小室阻抗：
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50Ω±5%標稱值
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駐波比：
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DC-3 GHz<1.2 3–8 GHz<1.5
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插入損耗（S21）：
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DC–8 GHz<1 dB
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回波損耗（S11和S22）：
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DC-3 GHz＞20 dB
3-8 GHz＞14 dB
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有效隔板至墻壁高度：
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8.0 mm
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小室中心的電場強度：
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1V時的125 V/m（1kV時*大為125 kV/m）
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小室中心的H場強度：
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=E場強度/377（A/m）
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射頻連接器：
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SMA
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max輸入功率：
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70瓦
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直流時的max輸入電壓：
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1 kV
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DUT端口尺寸：
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40（寬）x 40（深）mm
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推薦DUT max 尺寸值：
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20（長）x20（寬）x2（高）mm
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TEM小室的尺寸：
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170（長）x 105（寬）x 20（高）mm
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重量約：
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2公斤
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